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Aufbau und Evaluation eines Scanners zur EMV-Untersuchung von Leiterplatten auf Basis von Low-Budget-Hardware

Lehrstuhl: Arbeitsgebiet Bordsysteme

Betreuer: Robert Nowak,

Beginn ab: 01.10.2019

Maximale Anzahl der Teilnehmer: 6

Beschreibung: Aufgrund der steigenden Leistungsfähigkeit und Integrationsdichte von elektrischen Systemen erhöht sich die Gefahr, dass sich die Komponenten eines Systems gegenseitig beeinflussen. Das Gebiet der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) beschäftigt sich damit, diese Beeinflussungen zu identifizieren und soweit zu begrenzen, dass die Funktionsfähigkeit der Systeme gewährleistet wird.

So muss für jede Elektronikkomponente sichergestellt werden, dass diese eine zulässige feldgebundene Störausstrahlung hat. Um dies nachzuweisen sind Antennenmessungen in Absorberkammern notwendig. Solche Messungen sind im Allgemeinen aufwendig und teuer. Die Untersuchung mit Nahfeldscannern ist eine attraktive Alternative. Bei diesem Ansatz wird auf Basis des elektromagnetischen Nahfeld einer Komponente das Ergebnis einer Antennenmessung vorhergesagt und es ist möglich konkrete Störquellen zu identifizieren. Da für diese Untersuchung keine besondere Umgebung und Hardware notwendig ist, wird dieses Analysewerkzeug im Entwicklungsprozess von Elektronikkomponenten zunehmend interessanter.

Die Kosten für die Untersuchung mit einem Nahfeldscanner sind im Allgemeinen geringer als die Kosten für eine Antennenmessung. Den größten Kostenpunkt bei Nahfeldscannern stellt insbesondere die professionelle Messtechnik dar, die typischerweise eingesetzt wird. Im Rahmen dieser Projektgruppe soll ein Scanner samt Messtechnik auf Basis von Low-Budget-Hardware aufgebaut und evaluiert werden. Dieser Scanner soll zudem über die Funktionalität das elektrische bzw. magnetische Nahfeld zu messen hinaus gehen. Der Scanner soll bspw. unter Verwendung von Messspitzen auch in der Lage sein, Spannungen an bestimmten Bauteilen automatisiert zu messen. Ziel ist die Evaluierung eines kostengünstigen Scanners bezüglich der Nutzbarkeit zur EMV-Untersuchung von Leiterplatten. Damit wird die wirtschaftliche Attraktivität von diesem Analysewerkzeugs betrachtet.